PConline 資訊]據外媒報道稱，東北大學（Tohoku University）的研究人員近日開發出一種利用空心球來測量大型半導體晶體的電子和光學特性的技術。根據東北大學研究人員的說法，他們的方法改進了現有的光致發光光譜技術，可以為大規模生產者和電力設備的消費者帶來節能。

據介紹，半導體晶體用于制造電子器件，如微處理器芯片和晶體管。制造商需要能夠檢測晶體缺陷并測試其能量轉換效率其中一種方法是測量它們的“內部量子效率”，即它們從被電流或激發激光激發的電子中產生光子的能力。目前可用的方法都限制了可以一次測試的樣本量。

東北大學的先進材料科學家Kazunobu Kojima及其同事設計了一種改進的光致發光光譜方法，可以測試更大的樣品。

當激發激光照射在半導體晶體上時，標準光致發光光譜檢測半導體晶體發出的光的相對量。光能通過這些激發和發射過程而消失，因此科學家們一直在試驗光致發光光譜，它使用“積分球”來最小化光子（光的基本粒子）的損失。

積分球收集激發光和從其內部的樣品發出的光，其中光在內部漫反射直到它變得均勻分散。光的均勻分布提高了內部量子效率測試的準確性和可重復性。但這意味著被測晶體的尺寸最終受到球體尺寸的限制。

Kojima及其同事發現，當晶體直接放置在球體外時，它們仍然可以測試晶體的內部量子效率，從而允許使用更大的樣品。他們對稱為氮化鎵的半導體晶體進行了測試，這種晶體通常用于LED，由于其優越的性能，將用于電子器件。

Kojima說：“這種'omnidirectional photoluminescence'光譜儀可用于評估大尺寸晶體或半導體晶圓的質量，這對于功率器件的大規模生產至關重要，可以帶來節能并降低生產成本。”

via：Newelectronics PConline編譯作者：栗子