2013年10月17-20日武漢東隆科技（以下簡稱“東隆科技”）與合作公司——德國PicoQuant一同前往武漢物理與數學研究所，為唐淳教授所帶領的課題組安裝調試最新一代基于激光掃描顯微(LSM)的熒光壽命成像及分析系統。

    由PicoQuant公司開發的 LSM熒光壽命成像系統，擁有極高的時間分辨率(4ps)，基于定比鑒別(CFD)和時間延時原理(TDC)的精準數據采集方式和籍由高度模塊化所帶來的組合靈活性以及操作便捷性等優點。再配合靈敏的單光子探測器和最新的SymPhoTime64軟件，可以針對熒光壽命成像 (FLIM)，熒光相關性光譜 (FCS)，熒光共振能量轉移 (FRET)，反聚束 (Antibunching)，量子通訊 (Quantum cryptography)，超相關 (Super correlation) 和普通的點壽命測量，強度-時間分布等主流應用提供功能完備的數據采集，分析及后續的擬合計算功能。此外，多種的變頻脈沖光源和豐富的配件，使該系統有良好的系統整合性。與Nikon 的共聚焦LSM系統搭配后，可實現精準的單分子級別測量以及對樣本有一定穿透深度要求的應用。

    首日，Steffen Ruettinger博士同東隆技術人員李肖北，王川和黃超一行四人在物數所對各設備進行了拆封，核對及連接試運行。其中包括，光路校準，耦合調試等。由于采用了PQ原生封裝的探頭單元和激光單元，所以采樣結果的噪音抑制非常理想，信噪比接近1000：1。